是否可以通過試驗來剔除早期失效的LED？

是否可以通過試驗來剔除早期失效的LED？

發(fā)布日期：2017-09-13           整理：雷舒科技

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是否可以通過試驗來剔除早期失效的LED？

與其他半導(dǎo)體器件一樣，LED可借鑒半導(dǎo)體二極管、三極管和集成電路的篩選方法來剔除產(chǎn)品中容易早期失效的器件，從而減少進入客戶應(yīng)用領(lǐng)域中的產(chǎn)品的失效率。

已經(jīng)針對各種失效模型制定出篩選試驗辦法，常用的有如下一些方法：

（1）    電熱加速疲勞試驗

在每一生產(chǎn)批次的LED產(chǎn)品中，按規(guī)定的抽樣比率隨機抽取一定數(shù)量的樣本進行缺陷的產(chǎn)品在較大強度的電熱應(yīng)力下暴露出來，從而達到剔除的目的。例如對常規(guī)小功率LED，使I_F=30mA，溫度85℃下老化240小時以上再進行測試統(tǒng)計失效率，看是否超過規(guī)定的比率，如超過，則此批進行篩選，剔除早期失效產(chǎn)品。

（2）    環(huán)境試驗

環(huán)境試驗是模擬LED在應(yīng)用中遇到的各類自然現(xiàn)象的侵襲，考驗LED的

承受能力。例如若將LED應(yīng)用在火箭裝置中，當(dāng)火箭發(fā)射升空時，LED將受到重力加速度，沖擊振動，溫度巨變等各種侵襲，構(gòu)成LED的材料會發(fā)生各種應(yīng)力沖擊。如果加工過程沒有充分預(yù)防，則很可能導(dǎo)致LED失效。

一般來說，環(huán)境試驗并不是對所生產(chǎn)的LED全部試驗，因為有些試驗屬破壞性試驗，被試樣品會產(chǎn)生外觀性能的變化。不能再作產(chǎn)品出廠。因此環(huán)境試驗采用定期抽樣方法。這類試驗一般有：

（A）     高低溫沖擊試驗——從高溫突變到低溫多次沖擊。

（B）    溫度循環(huán)試驗——高溫     低溫       高溫     低溫循環(huán)。

（C）     潮溫試驗——在規(guī)定溫度、濕度下將LED進行存放規(guī)定時間。

（D）     鹽霧試驗——在規(guī)定鹽度氣氛下存放規(guī)定時間。

（E）      沙塵試驗——模擬在沙漠環(huán)境下存放或工作。

（F）      輻照試驗——各種射線輻照觀察LED光電性能。

（G）     振動、沖擊試驗——在規(guī)定振幅和頻率下對LED進行模擬運輸過程的試驗。

（H）     跌落試驗——在一定高度下跌落數(shù)次。

（I）        引線拉力和彎折試驗——對LED的引出線進行拉伸強度試驗和折彎試驗。

（J）       離心加速度試驗——模擬LED旋轉(zhuǎn)狀態(tài)承受能力。

等等一些模擬LED可能遇到的各種自然現(xiàn)象和使用環(huán)境，檢驗它的承受能力和各種構(gòu)件的應(yīng)力匹配狀況。

（3）    壽命實驗

為了觀察LED在長期連續(xù)使用的情況下，其光性能的變化規(guī)律，LED制

造商必須對每一類品種抽樣進行長期通電老化，以考察這一特定類型的產(chǎn)品的“壽命”時間。通過對不同工藝，材料的每類產(chǎn)品數(shù)千，甚至數(shù)萬小時的跟蹤觀察。積累數(shù)據(jù)，從而作出它們的預(yù)期工作的“平均壽命”的統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

壽命實驗一般在規(guī)定的環(huán)境條件下，對LED加置額定的功率，長期進行通電老化，并定期測試它的有關(guān)光電參數(shù)記錄對比得出相關(guān)數(shù)值。

 

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